QualitySpec® Pro — hızlı analizler ve verilerin tamamının veya büyük bir kısmının kontrolünü sağlamak için uygun maliyetli NIR spektrometredir. Geliştirilmiş InGaAs TurboScanner teknolojisiyle birlikte geniş örnekleme aksesuarlarına ve fiber optik kablolarına uyumlu bir dizayna sahiptir. Sonradan dağıtıcı bir sisteme sahip olan QualitySpec® Pro çok düşük miktarda ışık kaybı ve yüksek gürültü-sinyal oranı sağlar. Böylece cisimlerin daha iyi ayırdedilmesi için yüksek tekrarlanabilirlik olanaklı kılınır ve maddelerin nicel analizleri yapılabilir. Esnek aralıklarla bütçeye uygun ihtiyaçları karşılayabilir. QualitySpec® Pro spektrometrenin aşağıdaki konfigürasyonları mevcuttur:

• 350 - 1050 nm • 1000 - 2500 nm • 1000 - 1800 nm • 350 - 1800 nm • 1800 - 2500 nm • 350 - 2500 nm

Diğer Özellikleri:
• -20º C de TE soğutmaya yüksek hassasiyet,
• 0.1 saniye tarama hızıyla 2 nm örnekleme aralığı,
• Endüstri standardı 905 fiber optik SMA bağlayıcılar,
• ASD’nin kemometrik paketlerle kusursuz entegrasyon sağlayan Indico® yazılımı,
• LabVIEW® ile uyumlu TCP/IP scripting kit içeren Ethernet iletişim platformu,
• QualitySpec® Pro’ya kurulan kalibrasyonlar ASD’nin taşınabilir ve uzaktan izleme yapan versiyonlarına da uygulanabilir.
• QualitySpec® Pro, süper performans ve FDA ve USP düzenlemeleriyle tam uyumluluk sunar. NIR teknolojisine kendini adamış uzman kişiler tarafından desteklenen üstün uygulamalar da eklenince, QualitySpec® Pro sanayide maliyetine göre en iyi performansa sahiptir. Hemen her ülkedeki cihazlarıyla, 50 ülkeden fazla, ve sayısız uygulamalarla teknik deneyime sahip olan ASD, size yardımcı olarak isteklerinizi karşılayacak cihazları iyi tespit eder ve sizi gereksiz maliyetten kurtarır.

Önceden Dağıtıcı ve Sonradan Dağıtıcı sislemler arasındaki fark nedir?
Önceden dağıtıcı bir spektrometrede, örnek tekrenkli ışıkla aydınlatılır. Işık yansıtıldıktan ya da iletildikten sonra toplanarak cihazın dedektörü tarafından alınır. Örnekten yolundan sapmış her türlü ışık da ayrıca toplanır, böylece cihazın gönderdiği tekrenkli aydınlatma ve her dalgaboyundaki çevrenin aydınlatılmasından kaynaklanan ışınlardan sapmalar da dedektörler tarafından alınır.

Sonradan dağıtıcı bir spektrometrede, örnek beyaz ışıkla aydınlatılır. Işık yansıtıldıktan ya da iletildikten sonra toplanarak önce cihaz tarafından alınır. Burada dalgaboyuna göre ayrıldıktan sonra cihazın dedektörleri tarafından ölçülür.

Genel olarak iki kategori önceden ya da sonradan dağıtıcı sistem tarafından etkilenir ve birçok durumda sonradan dağıtıcı sistem önceden dağıtıcı sisteme göre daha avantajlıdır.

Yolundan Sapmış Işığın Karışması
Önceden dağıtıcı bir spektrometrede, çevrenin aydınlatılmasıyla ortaya çıkan yolundan sapmış ışınlar dedektör tarafından ölçülen toplam ışığın büyük bir kısmını temsil ettiğinden büyük bir hata kaynağı olabilir. Bu hata, örnek çevreden gelen ışınlardan korunarak minimize edilebilir ancak bu durumda yansıtım ve iletim için ayrıca temas olmadan yapılan ölçmeler için gerekli cihazlar kullanılamaz.
Sonradan dağıtıcı bir spektrometrede, çevrenin aydınlatılmasıyla ortaya çıkan yolundan sapmış ışınlar ölçülür ancak sadece dedektörle ölçülen aynı dalga boyundaki sinyale eklenir. Böylece, yolundan sapmış ışınlar dedektör tarafından ölçülen sinyalin toplamına daha küçük bir etkide bulunur. Bu da cihazın tutarlılığını arttırır.

Örnekleme veya Örneğin Gösterilmesindeki Esneklik
Sonradan dağıtıcı spektrometreler çok yüksek miktarda örnekleme ya da örnekleme arayüzünde esneklik sağlar. Sonradan dağıtıcı sistemler temas olmadan ve uzaktan yapılan ölçmelere olanak sağlarken, Önceden dağıtıcı sistemler genellikle çevreden kaynaklanan yolundan sapmış ışınlarla problem yaşarlar.